[发明专利]基于浮标式双程斜返探测的电离层倾斜修正系统及方法有效
| 申请号： | 201911233443.4 | 申请日： | 2019-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN111157979B | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 周晨;吕明杰;周永;李金泽;赵正予 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G01S13/02 | 分类号： | G01S13/02 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 彭艳君 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及雷达探测技术，具体涉及基于浮标式双程斜返探测的电离层倾斜修正系统及方法，该系统包括短波发射站和位于矮波发射站照射区域内的浮标；短波发射站，用于向电离层预设区域辐射短波，接收浮标返回的坐标信息并根据自身的坐标以所接收的浮标坐标之间的相对位置关系对电离层的倾斜角度进行修正；浮标上设有应答机，应答机用于在接收到短波发射站发射的短波后，将浮标自身的地理坐标调制到短波中并发射至短波发射站，并将测量的短波的多普勒频移误差和/或短波时延信息调制到接收的短波中，然后将调制后的短波发射至短波发射站。该修改系统能获取更加精确的电离层倾斜角度，进而提高了待探测目标的定位精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 浮标 双程 探测 电离层 倾斜 修正 系统 方法 | ||
【主权项】：
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