[发明专利]一种基于图像处理的硅块杂质检测方法有效
申请号: | 201911212551.3 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN111307814B | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 刘泽宇;朱敏;陈发勤 | 申请(专利权)人: | 宜昌南玻硅材料有限公司;中国南玻集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/95;G06T7/00;G06T7/10 |
代理公司: | 宜昌市三峡专利事务所 42103 | 代理人: | 余山 |
地址: | 443007 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种基于图像处理的硅块杂质检测方法,它包括以下步骤:步骤1)图像采集:使用光源对硅块进行照射,并采集穿透过的光线,获得硅块内部图像;步骤2)查找灰斑:对采集的图像进行处理,找到灰斑;步骤3)鉴别灰斑:对找到的灰斑进行鉴别,剔除不是杂质原因形成的灰斑;由步骤1)、步骤2)、步骤3)最终获得硅块内部图像中杂质点的数量、坐标和大小信息;步骤4)结果处理:进一步统计得出杂质密度,杂质点分布,杂质点总面积,确定该硅块的处理方式。本发明是为了提高硅块杂质检测的准确性、客观性、高效性而提供的一种基于图像处理的硅块杂质检测方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 图像 处理 杂质 检测 方法 | ||
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