[发明专利]一种连通性测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 201911206791.2 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN112887163B | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 郏悦 | 申请（专利权）人： | 北京金山云网络技术有限公司;北京金山云科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L43/0811 | 分类号： | H04L43/0811;H04L43/50 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 马敬;项京 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种连通性测试方法、装置、电子设备及存储介质。方案如下：测试设备可以在对第一待测设备和第二待测设备进行连通性测试时，确定第一待测设备的第一IP地址，以及第二待测设备的服务访问信息，其中，第二待测设备为包含用于网络服务的镜像文件的虚拟机；基于服务访问信息，利用目标软件，访问第二待测设备的网络服务，并向第二待测设备传递第一IP地址，以使第二待测设备基于第一IP地址，与第一待测设备进行连通性测试。通过本发明实施例提供的技术方案，在该连通向测试过程中，第一待测设备和第二待测设备并不需要与EIP绑定，可以适用于虚拟机不能访问外网的测试场景，从而实现不同测试场景中的连通性测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 连通性 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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