[发明专利]DDR测试设备及压合部件在审
| 申请号： | 201911206237.4 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110988653A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 刘冲;李振华;杨元明 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人： | 隆毅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开一种DDR测试设备的压合部件，该DDR测试设备的压合部件包括安装座和多个间隔设置在所述安装座上的压头，所述压头包括凹槽、多个设置在所述凹槽内的弹性件和设置在所述凹槽的开口端的凸块，所述弹性件的一端设置在所述凹槽的底部，所述弹性件的另一端设置在所述凸块的内端面上，所述凸块可在外部压力的作用下朝向所述凹槽的内部移动并压缩所述弹性件。本发明DDR测试设备的压合部件通过多个柔性压头压持待测的DDR芯片，可减少压合过程中对手机主板造成的损伤，避免过多的器件损耗，从而达到降低测试成本的目的。此外，本发明还公开一种DDR测试设备。 | ||
| 搜索关键词： | ddr 测试 设备 部件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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