[发明专利]基于激光散斑极限约束投影的高反射物体测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201911202640.X 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110940295B 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 张韶辉;郝群;王云梅;胡摇 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京市中闻律师事务所 11388 代理人: 冯梦洪
地址: 100081 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 基于激光散斑极限约束投影的高反射物体测量方法及系统,其只需要简单的激光发射和图像采集设备即可较精确的完成高反射物体的测量,结构简单,无需涂抹防反射材料或采取接触式测量,保证被测物体不受损害,并且对于工业生活中常见物体的测量,具有一定的通用性,有效降低高反射物体反射光线带来的影响,提高反射物体的三维测量精度。方法包括:(1)构建相机数学模型,获得相机的内参和外参;(2)在相机基线方向上向高反射物体表面投射条带状散斑,平移台驱动物体移动,相机采集多组图片;(3)采用Fusiello极限校正法进行校正;(4)进行立体匹配,求取左右图片的视差并得到视差图;(5)获取三维点云数据;(6)重构此物体的三维形貌。
搜索关键词: 基于 激光 极限 约束 投影 反射 物体 测量方法 系统
【主权项】:
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