[发明专利]一种基于量子点半导体放大器的光学相干层析成像系统在审
| 申请号： | 201911197701.8 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN110987874A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 张余宝;朱羿叡;薛侨侨;谢成峰;史久林;何兴道 | 申请（专利权）人： | 南昌航空大学 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 南昌智旭知识产权代理事务所(普通合伙) 36138 | 代理人： | 付龙 |
| 地址： | 330000 江*** | 国省代码： | 江西;36 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于量子点半导体放大器的光学相干层析成像系统。该系统的扫频激光器出射一束激光，经光纤传导入射到耦合器中，分为参考光和样品光，参考光和样品光分别对参考反射镜和样品进行扫描，参考反射镜的反射光与样品的背向散射光返回至耦合器上，并在耦合器上发生干涉，干涉信号经过双聚焦透镜汇聚，入射到量子点半导体放大器内进行放大，实现对干涉信号强度的放大，放大的信号经过光纤传导进入光电平衡探测器中转变成电信号并传输至采集卡中进行处理，然后传输到计算机上，得到样品信息的成像深度以及空间分辨率参数的二维或三维图像。本发明的优点是：利用量子点半导体放大器提高光学相干层析成像系统的成像深度以及分辨率参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 量子 半导体 放大器 光学 相干 层析 成像 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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