[发明专利]具有微桥结构的半导体结构及其形成方法、微结构传感器有效

专利信息
申请号: 201911189546.5 申请日: 2019-11-28
公开(公告)号: CN111024244B 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 钱良山;范延军;姜利军 申请(专利权)人: 浙江大立科技股份有限公司
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20;B81B7/00;B81C1/00
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;董琳
地址: 310053 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种具有微桥结构的半导体结构及其形成方法、一种微结构传感器,所述半导体结构包括:基底,所述基底表面内形成有金属互连结构;导电柱,位于所述基底表面,与所述金属互连结构电连接;第一微桥结构,包括第一悬臂桥墩和第一桥面,所述第一悬臂桥墩底部下沉,固定于所述导电柱表面,与所述导电柱电连接,所述第一悬臂桥墩顶部支撑所述第一桥面悬空于所述基底上方,所述第一桥面包括敏感层,所述敏感层与所述第一悬臂桥墩之间电连接。上述半导体结构的微桥结构稳定性提高且灵敏度提高。
搜索关键词: 具有 结构 半导体 及其 形成 方法 微结构 传感器
【主权项】:
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