[发明专利]基于微透镜阵列二维光学编码标识定向的位姿测量方法有效
| 申请号： | 201911169072.8 | 申请日： | 2019-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN110887470B | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 孙长库;祖亚慧;王鹏 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01C21/00 | 分类号： | G01C21/00;G01C11/04;G06T7/70 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 程毓英 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于微透镜阵列二维光学编码标识定向的位姿测量新方法，其特征在于，步骤为：设计二维编码光学标识，改变二维转台的俯仰角和方位角，采集不同姿态的二维编码光学标识图；从校正后的二维编码光学标识图中分割出微透镜阵列表面成像图案；将不同姿态的微透镜阵列表面成像图案按照单位微透镜的排布平均分割成若干小区域，求取每个小区域的平均像素；线性插值得到中间姿态；将所有姿态的单位微透镜平均像素值按照大小排序；获取未知姿态微透镜阵列二维编码；待测姿态方位角估计。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 透镜 阵列 二维 光学 编码 标识 定向 测量方法 | ||
【主权项】：
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