[发明专利]基于调制光场的TOF多径干扰去除方法、系统、设备及介质在审
| 申请号： | 201911141508.2 | 申请日： | 2019-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN112824934A | 公开（公告）日： | 2021-05-21 |
| 发明（设计）人： | 苏公喆;杨心杰;朱力;吕方璐;汪博 | 申请（专利权）人： | 深圳市光鉴科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S17/894 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市南山区粤海街道高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于调制光场的TOF多径干扰去除方法、系统、设备及介质，包括如下步骤：获取第一图像数据，所述第一图像数据包括多个光斑区数据和背景区数据，所述第一图像数据为向一目标物体投射离散光束时通过TOF传感器采集；根据所述背景区数据确定所述第一图像数据对应的多径干扰基本量；基于所述多径干扰基本量确定每一所述光斑区数据对应的多径干扰分量，进而去除每一所述光斑区数据对应的多径干扰分量，以生成目标光斑区数据。本发明能够通过向目标物体投射离散光束时采集的第一图像数据中的背景区数据确定多径干扰分量，对所述光斑区数据处理以去除多径干扰分量，从而能够消除了多径干扰造成的测量误差，实现高精度的深度图像的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 调制 tof 干扰 去除 方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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