[发明专利]一种聚变装置中对杂质注入量实时监测的方法在审
| 申请号： | 201911133985.4 | 申请日： | 2019-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN110849430A | 公开（公告）日： | 2020-02-28 |
| 发明（设计）人： | 钱玉忠;孙震;黄明;徐伟;孟献才;李成龙;韦俊;庄会东;左桂忠;胡建生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01F1/66 | 分类号： | G01F1/66 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种聚变装置中对杂质注入量实时监测的方法，包括：在杂质注入管道两侧安装两个正对的玻璃观测窗，将激光发射器产生的激光传导至光纤，光纤另一端与装有凸透镜的金属管相连，激光穿过凸透镜后折射成一束平行光线，平行光线经平面反射镜反射后透射穿过两个玻璃观测窗，再由平面反射镜反射到另一个凸透镜上，平行光线经过凸透镜会聚后进入光纤，再由光纤引入到激光接收器，激光接收器将光信号转换为电信号，对电信号进行实时采集。在聚变装置中，将激光发射器及接收器按照上述结构加装在杂质注入路径两侧，在等离子体放电过程中，由于杂质在注入过程中会对激光形成遮挡，通过对遮挡后激光强度进行监测分析，便实现了对杂质注入量的实时监测。本发明光路简单，为聚变实验中杂质注入研究提供了可靠地数据支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 聚变 装置 杂质 注入 实时 监测 方法 | ||
【主权项】：
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