[发明专利]基于DDPG-RAM算法的复杂光照条件下织物缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201911129224.1 | 申请日： | 2019-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN110930379B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 柯丰恺;刘欢平;周唯倜;赵大兴;孙国栋;冯维 | 申请（专利权）人： | 湖北工业大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/764 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 王和平;张继巍 |
| 地址： | 430068 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于DDPG‑RAM算法的复杂光照条件下织物缺陷检测方法，采集织物缺陷图像作为训练样本‑对织物缺陷图像进行图像增强‑利用图像增强后的训练样本对DDPG‑RAM模型进行训练，确定训练后的网络参数‑利用训练后的DDPG‑RAM模型对织物缺陷图像进行缺陷检测。实现了织物缺陷的自动检测，且运行速度快，具有更高的准确性，效果更好。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ddpg ram 算法 复杂 光照 条件下 织物 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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