[发明专利]基于表面核磁共振技术的流体T1弛豫谱的快速测量系统与方法有效
| 申请号： | 201911109285.1 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN111058828B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 汪红志 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | E21B47/00 | 分类号： | E21B47/00;E21B47/13 |
| 代理公司： | 上海德禾翰通律师事务所 31319 | 代理人： | 夏思秋 |
| 地址： | 200062 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于表面核磁共振技术的流体T1弛豫谱的快速测量系统，包括U型表面磁体，多个平面射频线圈，控制谱仪以及快速T1测量序列组成；U型表面磁体在U型开口处形成一个鞍形区内的均匀水平主磁场，整个U型表面磁体由多个U型组件串接而成；U型表面磁体长度依据待测流体的最高流速来确定；U型表面磁体的轴向为磁体或待测流体运动的方向；平面射频线圈包括发射线圈和多个收发一体射频线圈，发射线圈大于收发一体射频线圈；发射线圈负责发射饱和脉冲；收发一体射频线圈负责发射90度射频后采集FID信号；发射线圈和收发一体射频线圈所产生的射频场方向为U型表面磁体的开口方向，其与水平主磁场和流速V的方向均垂直。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 表面 核磁共振 技术 流体 t1 弛豫谱 快速 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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