[发明专利]一种薄壁圆筒壁厚测量系统及壁厚均匀性判定方法在审
| 申请号： | 201911108110.9 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN111006597A | 公开（公告）日： | 2020-04-14 |
| 发明（设计）人： | 李启明;韩维群;步贤政;韩飞;吴宇轩;朗科技 | 申请（专利权）人： | 北京航星机器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 茹阿昌 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种薄壁圆筒壁厚测量系统及壁厚均匀性判定方法，包括：测厚仪内探头、测厚仪外探头、承力架、卡紧机构、滚转机构、平移机构。平移机构和滚转机构固定在承力架上，待测薄壁圆筒的两端通过滚转机构连接承力架；滚转机构用于使待测薄壁圆筒旋转；测厚仪内探头设置在待测薄壁圆筒的内部，测厚仪外探头设置在待测薄壁圆筒的外部；测厚仪内探头、测厚仪外探头通过对射激光获得待测薄壁圆筒的壁厚测量值；测厚仪内探头、测厚仪外探头通过平移机构固定连接承力架；平移机构用于使测厚仪内探头、测厚仪外探头同步沿待测薄壁圆筒轴向运动。本发明能改进现有零件检测方法，为零件后续加工保证精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄壁 圆筒 测量 系统 均匀 判定 方法 | ||
【主权项】：
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