[发明专利]一种X射线检测透照几何参数测量方法在审
| 申请号： | 201911065064.9 | 申请日： | 2019-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN110702708A | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 虞鸿江;刘荣海;杨迎春;郭新良;周静波;郑欣;许宏伟;焦宗寒;代克顺;陈国坤 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N23/046 | 分类号： | G01N23/046 |
| 代理公司： | 11363 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种X射线检测透照几何参数测量方法，通过建立全局坐标系，确定X射线机、被检设备、成像装置在全局坐标系中的空间坐标，依照空间坐标计算检测时X射线机、被检设备、成像装置的透照几何参数，为CT技术在电力设备现场检测中应用提供基础。 | ||
| 搜索关键词： | 全局坐标系 被检设备 成像装置 透照 几何参数测量 空间坐标计算 电力设备 几何参数 空间坐标 现场检测 应用提供 检测 申请 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检测透照几何参数测量方法，其特征在于，由原点定位装置、测距信号发射装置、信号接收装置、数据分析处理系统构成；/n测量步骤为：/n步骤一：原点定位装置选取检测现场空间一点作为全局坐标原点，并建立全局坐标系；/n步骤二：成像板为平面模型，测距信号发射装置与信号接受装置测量成像板平面上不处于一条直线上三个点至原点的距离，确定成像板平面位置；/n步骤三：X射线机窗口为平面模型，测距信号发射装置与信号接受装置测量X射线机窗口不处于一条直线上三个点至原点的距离，确定X射线机窗口位置；/n步骤四：电力设备一般为圆柱体，结合其图纸，确定其轴线即可确定其位置，其轴线可通过等高面上三点确定圆心，通过圆心的法线即为轴线；/n步骤五：数据分析处理系统在确定了成像板、X射线机和设备位置方程后，即可获得透照时的几何参数。/n
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