[发明专利]一种基于MEMS扫描振镜的线结构光三维测量方法

摘要

本发明属于机器人视觉三维测量技术领域，并公开了一种基于MEMS扫描振镜的线结构光三维测量方法。该方法包括下列步骤：(a)设定MEMS扫描振镜的扫描范围，光点之间的间隔角度；(b)采用二维棋盘标靶标定激光发射点A到每个光点的连线形成的光线方程；(c)MEMS扫描振镜扫描待测物体，建立图像上的点与光点之间的对应关系；(d)计算直线图像上的任意点P与相机光心B连线形成的直线PB与光线AO的交点，该交点坐标即为所需的光点O坐标，以此方式获得待测物体表面所有光点的坐标，即实现待测物体的三维测量。通过本发明，消除线结构光在测量混合反射表面时由于光条过曝而导致光条中心提取不准的影响提高三维测量精度。

主权项

1.一种基于MEMS扫描振镜的线结构光三维测量方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：/n(a)设定MEMS扫描振镜的扫描范围，光点之间的间隔角度，将所述扫范围按照该间隔角度均分，并对均分后的光点进行编号，以此获得每个光点编号；/n(b)将二维棋盘标靶放置MEMS扫描振镜的扫描域内，采用光刀平面标定方法对MEMS扫描振镜进行标定，以此获得MEMS扫描振镜上激光发射点A到每个光点的连线形成的光线方程；/n(c)移除二维棋盘并将测物体放置在MEMS扫描振镜的扫描域内，设定每个光点的亮度与光点编号之间的关系式，根据该关系式对每个光点的亮度进行设定，MEMS扫描振镜按照设定的光点亮度、扫描范围和间隔角度在待测物体表面扫描，使得在待测物体表面形成一条亮度不一的直线，相机拍摄该直线获得直线图像，利用该直线图像建立图像上的点与光点之间的对应关系；/n(d)对于步骤(c)中获得的直线图像上的任意点P，根据步骤(c)获得的直线图像上的点与光点之间的对应关系获得在待测物体表面与所述任意点P对应的光点O，在根据步骤(b)中获得的所有直线方程中找到O点所在的光线方程AO，计算P点与相机的光心B连线形成的直线PB与光线AO的交点，该交点坐标即为所需的光点O坐标，以此方式获得待测物体表面所有光点的坐标，即实现待测物体的三维测量。/n