[发明专利]基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计有效
| 申请号： | 201911039598.4 | 申请日： | 2019-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN110779637B | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 曾炼;刘静;黄青丹;王勇;张亚茹;宋浩永;饶锐;赵崇智;李助亚;廖伟杰;陈于晴 | 申请（专利权）人： | 广东电网有限责任公司广州供电局 |
| 主分类号： | G01K17/00 | 分类号： | G01K17/00;G01K19/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 罗佳龙 |
| 地址： | 510620 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计，包括基底、多个薄膜、多个导电件、多个导线及至少两个磁性件，各薄膜设置于基底的其中一面，每一薄膜上分别设置有两个导电件，每一导线的一端与一导电件连接，各导线的远离导电件的一端用于分别与电数据采集组件连接，两个磁性件分别设置于基底朝向薄膜的一面，两个磁性件围绕各薄膜设置，且两个磁性件对应设置，通过多个薄膜承载等离子体的辐射，当薄膜受到辐射后，会在薄膜表面产生电信号，通过导电件和导线测量能够使得电信号被电数据采集组件采集，从而可以通过薄膜上的电信号计算得到各薄膜所在的平面上的辐射量，从而精确地得到二维平面上的辐射量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 金属 薄膜 热效应 等离子体 辐射 能量 测量 量热计 | ||
【主权项】：
1.一种基于金属薄膜热效应的等离子体辐射能量测量薄膜量热计，其特征在于，包括基底、多个薄膜、多个导电件、多个导线及至少两个磁性件，各所述薄膜分别设置于所述基底的其中一面，每一所述薄膜上分别设置有两个所述导电件，每一所述导线的一端与一所述导电件连接，各所述导线的远离所述导电件的一端用于分别与电数据采集组件连接，两个所述磁性件分别设置于所述基底朝向所述薄膜的一面，两个所述磁性件围绕各所述薄膜设置，且两个所述磁性件对应设置。/n
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