[发明专利]一种带电粒子束二维分布监测装置和方法有效
| 申请号： | 201911017216.8 | 申请日： | 2019-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN110780336B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | 于得洋;刘俊亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 孙楠 |
| 地址： | 730000 *** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种强流带电粒子束二维分布监测装置和方法，包括：依次排列的准直板、法拉第筒阵列板和测量板以及数据处理模块；法拉第筒阵列板上设有成阵列式排布的第一通孔；测量板上设有成阵列式排布的第二通孔，测量板的每个第二通孔内对应设置测量电极，测量电极用于采集带电粒子束信号，并将其传输给数据处理模块；数据处理模块根据测量电极的带电粒子信号和测量电极的实时位置信息绘制带电粒子束的二维分布图像；测量板与法拉第筒阵列板紧密贴合，各第一通孔与各第二通孔一一对应，并同轴设置；准直板上设有与各第一通孔同轴的第三通孔。本发明可以同时监测带电粒子束的强度和二维分布图像，测试结果更全面，能够更好的反应带电粒子束情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 带电 粒子束 二维 分布 监测 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种带电粒子束二维分布监测装置，其特征在于，包括：依次排列的准直板、法拉第筒阵列板、测量板以及数据处理模块；/n所述准直板朝向带电粒子束入射方向，用于准直所述带电粒子束；/n所述法拉第筒阵列板上设有若干成阵列式排布的第一通孔；/n所述测量板上设有若干成阵列式排布的第二通孔，所述测量板的每个所述第二通孔内对应设置测量电极，所述测量电极用于采集带电粒子束信号，并将其传输给所述数据处理模块；/n所述数据处理模块根据所述测量电极的带电粒子信号和测量电极的实时位置信息绘制带电粒子束的二维分布图像；/n其中，所述测量板与所述法拉第筒阵列板紧密贴合，各所述第一通孔与各所述第二通孔一一对应，并同轴设置；所述准直板上设有与各所述第一通孔同轴的第三通孔。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院近代物理研究所，未经中国科学院近代物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911017216.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
