[发明专利]利用多线结构光测量间隙面差的方法

摘要

本发明公开了一种利用多线结构光测量间隙面差的方法，包括：相机采集多条线结构光被调制所形成的结构光图像；得到光条图像，对光条图像进行轮廓分割，将每个左/右光条轮廓中的所有点记为一个单侧点集，筛选每个单侧点集所对应的特征点；利用间隙单侧的所有特征点进行直线拟合，作为基准线，求取间隙另一侧所有特征点到基准线的距离，取平均后作为间隙值；利用间隙一侧所有单侧点集内的点拟合平面，作为基准面，求取间隙另一侧所有特征点到基准面的距离，取平均后作为面差值，本方法能够一次性获得更多的被测物表面点云信息，同时，本方法提出了一种快速、高效的特征点寻找方法，保证了整个测量过程的高效性、测量结果的准确性。

主权项

1.一种利用多线结构光测量间隙面差的方法，其特征在于，包括如下步骤：/n1)多线结构光投射器向被测物表面投射相互平行的多条线结构光，相机采集多条线结构光被调制所形成的结构光图像；所述多条线结构光至少有三条；/n2)对所述结构光图像进行光条中心提取、图像处理，得到光条图像，对所述光条图像进行轮廓分割，依据与间隙的相对位置标记为左/右光条轮廓，将每个左/右光条轮廓中的所有点记为一个单侧点集，对于单个单侧点集将其中距间隙位置最远的点标记为起始端点；/n3)选取任一单侧点集，对所有点拟合直线，标记为第一直线；/n4)在所述单侧点集中，从起始端点开始筛选步长t范围内的点，标记为点集I，利用点集I拟合直线，标记为第二直线，求取第一、二直线之间的夹角θ；统计所述单侧点集中剔除点集I内点后剩余点的数量，标记为m；/n若夹角θ大于等于预设角，则以上次计算的步长加上h为新步长，同上述方法筛选出新的点集I内的点，重新拟合第二直线、求取新的夹角θ及数量m；如此重复，直至θ小于预设角；其中，/n若夹角θ小于预设角，将此次点集I内最靠近间隙位置的点记为特征点；/n5)同步骤3)、4)的方法对剩余单侧点集进行处理，直至得到每个单侧点集所对应的特征点；/n6)利用间隙单侧的所有特征点进行直线拟合，作为基准线，求取间隙另一侧所有特征点到基准线的距离，取平均后作为间隙值；/n利用间隙一侧单侧点集内的点拟合平面，作为基准面，求取间隙另一侧所有特征点到所述基准面的距离，取平均后作为面差值。/n