[发明专利]光谱仪和用于借助于光谱仪来分析光样本的方法在审
| 申请号： | 201910949685.7 | 申请日： | 2019-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN110987180A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | T.弗里奇 | 申请（专利权）人： | 克洛纳测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/44 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 梁冰;李雪莹 |
| 地址： | 德国杜*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 描述并示出了光谱仪（1），其包括至少一个光耦入元件（3）、能够变化的入口狭缝（4）、色散元件（6）、探测器元件（7）和控制和测评单元（8）。本任务提出了一种具有改进的测量特性的光谱仪，并且该任务通过以下方式得以解决，所述能够变化的入口狭缝（4）由包括多个像素的第一空间调制元件实现，其中，各个像素能够通过控制和测评单元彼此独立地定向，其中各个像素为了实现所述入口狭缝在运行中如此定向，使得从所述光耦入元件（3）入射的光的至少一部分被传导到所述色散元件（6）上。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱仪 用于 借助于 分析 样本 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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