[发明专利]散斑干涉形变测量系统校准方法及加载装置有效
| 申请号： | 201910940354.7 | 申请日： | 2019-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN110657755B | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 蔡萍;隆军;闫浩;刘持越;张悦萌;莫芮;董辰博 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16;G01B9/02 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种散斑干涉形变测量系统校准方法及加载装置，将试样形变测量校准转换为位移测量校准且校准区域位移量与位移驱动装置的位移一致，全场变形均在弹性变形范围内；进而通过各部件结构设计确保该加载位移量的精度及可重复性以满足校准需要的精度及重复性要求；最后利用散斑形变测量解算特点，通过对待校准区域的校准实现对散斑干涉测量系统的全场测量校准。本发明具有稳定高精度的特点，可以用于确定测量标准与形变加载装置示值之间关系的形变加载方法及装置，可广泛应用于形变测量校准领域中。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 形变 测量 系统 校准 方法 加载 装置 | ||
【主权项】：
1.一种散斑干涉形变测量系统校准方法，其特征在于，将试样形变测量校准转换为位移测量校准且校准区域位移量与位移驱动装置的位移一致，全场变形均在弹性变形范围内；进而通过各部件结构设计确保该加载位移量的精度及可重复性以满足校准需要的精度及重复性要求；最后利用散斑形变测量解算特点，通过对待校准区域的校准实现对散斑干涉测量系统的全场测量校准；/n所述的试样为圆盘形薄壁零件，包括位于中心的待校准区域、中部形变区域和外周固紧区域，其中：试样中心位移区域和外周固紧区域间为弹性变形区域。/n
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