[发明专利]量子点检测装置和方法有效
| 申请号： | 201910933147.9 | 申请日： | 2019-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112577958B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 赵改娜 | 申请（专利权）人： | 成都辰显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 钭飒飒;刘芳 |
| 地址： | 611731 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种量子点检测装置和方法，量子点检测装置包括：光源、滤色片、待测品台、前置透镜、透射光采集光路和光谱采集光路；所述光源发出的光线依次经过所述滤色片、待测品台、前置透镜之后分别经过透射光采集光路和光谱采集光路；所述透射光采集光路用于获取光线的亮度信息，所述光谱采集光路用于获取光线的光谱信息；还包括输出单元，用于根据所述亮度信息和所述光谱信息计算并输出所述光线的光子数信息。本发明能够解决透射光外量子效率难以直接测量的技术问题，实现了对量子点膜激发的透射光外量子效率的检测，检测精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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