[发明专利]存储器测试技术在审
| 申请号： | 201910922495.6 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN110993011A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 安迪·旺坤·陈;扬尼斯·雅拉米翁-格里韦;西里尔·尼古拉·德雷;富兰克·大卫·弗里德里克 | 申请（专利权）人： | ARM有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/44 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 存储器测试技术，本文描述的各种实现涉及一种具有第一电路和第二电路的集成电路。第一电路接收第一输入数据并绕过纠错电路以确定第一输入数据是否具有一个或多个第一错误。第二电路接收第二输入数据并使能纠错电路以确定第二输入数据是否具有一个或多个第二错误。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 技术 | ||
【主权项】：
暂无信息
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