[发明专利]一种BMS电路测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201910922451.3 | 申请日： | 2019-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN110703071B | 公开（公告）日： | 2021-12-14 |
| 发明（设计）人： | 汤平;熊刚;邓秉杰;王伟平;黄才旺;陈火槟 | 申请（专利权）人： | 福建星云电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 林燕 |
| 地址： | 350000 福建省福州市*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种BMS电路测试系统，包括复数台LMU测试设备、一台BMU测试设备、一台HVB测试设备、一保护模块、一保护罩以及一测试控制设备；所述LMU测试设备、BMU测试设备、HVB测试设备、保护模块以及测试控制设备均设于保护罩内部；所述BMU测试设备、HVB测试设备以及各LMU测试设备均与测试控制设备相连接，所述保护模块与测试控制设备相连接；每所述LMU测试设备均与一本地电池监控单元相连接，所述BMU测试设备与电池系统管理单元相连接，所述HVB测试设备与高压盒相连接。本发明优点：可提高系统的测试效率和测试覆盖度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 bms 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种BMS电路测试系统，其特征在于：所述测试系统包括复数台LMU测试设备、一台BMU测试设备、一台HVB测试设备、一保护模块、一保护罩以及一测试控制设备；所述LMU测试设备、BMU测试设备、HVB测试设备、保护模块以及测试控制设备均设于所述保护罩内部；所述BMU测试设备、HVB测试设备以及各LMU测试设备均与所述测试控制设备相连接，所述保护模块与所述测试控制设备相连接；/n每所述LMU测试设备均与一本地电池监控单元相连接，所述BMU测试设备与电池系统管理单元相连接，所述HVB测试设备与高压盒相连接。/n
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