[发明专利]基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201910919998.8 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN110470253A | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 陈峰;陈向民;王辉东;徐凯;唐立华;姜伊欣;钟海;郑中庭 | 申请（专利权）人： | 杭州电力设备制造有限公司;国网浙江杭州市余杭区供电有限公司;国网浙江省电力有限公司杭州供电公司 |
| 主分类号： | G01B17/02 | 分类号： | G01B17/02 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈丽<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 310000 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种基于超声波的厚度测量方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该厚度测量方法包括：获取待测对象反射的超声回波信号的采样数据；从采样数据中提取一次回波信号的第一采样数据段，并提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段；分别计算各个第二采样数据段与第一采样数据段的相关系数；计算相关系数最大值对应的第二采样数据段与第一采样数据段的采样时间差；根据采样时间差计算待测对象的厚度。本申请利用对信号相关程度的分析，准确确定了二次回波信号的采样数据的提取起始位置，从而可精确计算出与一次回波信号的采样时间差，进而有效保障了对待测对象的厚度测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 采样数据 采样时间差 厚度测量 待测对象 回波信号 一次回波 计算机可读存储介质 超声回波信号 电子设备 信号相关 有效保障 超声波 预设 反射 申请 分析 | ||
【主权项】：
1.一种基于超声波的厚度测量方法，其特征在于，包括：/n获取待测对象反射的超声回波信号的采样数据；/n从所述采样数据中提取一次回波信号的第一采样数据段，并提取预设数量个二次回波信号的第二采样数据段；/n分别计算各个所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的相关系数；/n计算相关系数最大值对应的所述第二采样数据段与所述第一采样数据段的采样时间差；/n根据所述采样时间差计算所述待测对象的厚度。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电力设备制造有限公司;国网浙江杭州市余杭区供电有限公司;国网浙江省电力有限公司杭州供电公司，未经杭州电力设备制造有限公司;国网浙江杭州市余杭区供电有限公司;国网浙江省电力有限公司杭州供电公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910919998.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种无线测厚超声探头
- 下一篇：一种管道蠕变测量系统及方法
