[发明专利]对接口参数的参数规则进行测试的方法、装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 201910919714.5 申请日: 2019-09-26
公开(公告)号: CN110704317A 公开(公告)日: 2020-01-17
发明(设计)人: 马文杰;张晶;张艳丽;李欣 申请(专利权)人: 凡普数字技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 11694 北京万思博知识产权代理有限公司 代理人: 刘冀
地址: 102425 北京市房山区阎*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种对接口参数的参数规则进行测试的方法、装置及存储介质。其中,该方法包括:确定待校验接口的接口参数的参数规则,其中待校验接口与交互界面显示的图形化组件关联;根据参数规则,生成测试数据,并将测试数据写入图形化组件;基于测试数据,运行待校验接口对应的程序,从而输出程序的测试结果;以及根据测试结果,确定参数规则的有效性。达到了利用程序替代手工对参数规则进行测试,提高了测试的速率,大大减轻了测试人员的工作负担,同时使得得到的测试结果更加的全面和准确的技术效果。
搜索关键词: 参数规则 校验 测试 图形化组件 测试数据 生成测试数据 程序替代 存储介质 工作负担 技术效果 交互界面 接口参数 输出程序 对接口 写入 关联 申请
【主权项】:
1.一种对接口参数的参数规则进行测试的方法,其特征在于,包括:/n确定待校验接口的接口参数的参数规则,其中所述待校验接口与交互界面显示的图形化组件关联;/n根据所述参数规则,生成测试数据,并将所述测试数据写入所述图形化组件;/n基于所述测试数据,运行所述待校验接口对应的程序,从而输出所述程序的测试结果;以及/n根据所述测试结果,确定所述参数规则的有效性。/n
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