[发明专利]存储器器件及其形成方法有效
申请号: | 201910917271.6 | 申请日: | 2019-09-26 |
公开(公告)号: | CN110970438B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 陈姿妤;涂国基;石昇弘;朱文定;才永轩 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11502 | 分类号: | H01L27/11502;H01L27/11507 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;李伟 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一些实施例涉及铁电随机存取存储器(FeRAM)器件。该FeRAM器件包括:底部电极结构和位于底部电极结构上面的顶部电极。顶部电极具有在顶部电极的最外侧壁之间测量的第一宽度。铁电结构将底部电极结构与顶部电极分隔开。铁电结构具有在铁电结构的最外侧壁之间测量的第二宽度。第二宽度大于第一宽度,使得铁电结构包括反映第一宽度和第二宽度之间的差的凸缘。介电侧壁间隔件结构设置在凸缘上,并且覆盖顶部电极的最外侧壁。本发明的实施例还涉及存储器器件及其形成方法。 | ||
搜索关键词: | 存储器 器件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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