[发明专利]一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法在审
| 申请号： | 201910910281.7 | 申请日： | 2019-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN110530966A | 公开（公告）日： | 2019-12-03 |
| 发明（设计）人： | 李展平;蔡乐斯;夏梦婵;冯嘉欣;张新荣;张四纯 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64 |
| 代理公司： | 11245 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王春霞<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可视化阵列式高通量质谱检测装置及方法。所述可视化阵列式高通量质谱检测装置包括TOF‑SIMS质谱仪、基底和若干溶液混合容器；基底为栅格化硅片；基底固定于TOF‑SIMS质谱仪的样品托盘上；样品托盘与TOF‑SIMS质谱仪的进样系统相连通；TOF‑SIMS质谱仪包括计算机控制系统。本发明通过采用氧化石墨烯作为TOF‑SIMS基质，起到吸附富集溶液中样品，增强分子量较大样品整分子离子信号，辅助限定样品区域等作用，通过TOF‑SIMS检测样品组分的整分子离子并给出离子分布图，实现高通量分析并给出可视化结果。 | ||
| 搜索关键词： | 质谱仪 可视化 分子离子 样品托盘 质谱检测 高通量 阵列式 基底 计算机控制系统 高通量分析 氧化石墨烯 基底固定 检测样品 进样系统 溶液混合 样品区域 大样品 分布图 栅格化 硅片 富集 基质 吸附 离子 | ||
【主权项】：
1.一种可视化阵列式高通量质谱检测装置，包括TOF-SIMS质谱仪、基底和若干溶液混合容器；/n所述基底为栅格化硅片；/n所述基底固定于所述TOF-SIMS质谱仪的样品托盘上；/n所述样品托盘与所述TOF-SIMS质谱仪的进样系统相连通；/n所述TOF-SIMS质谱仪包括计算机控制系统。/n
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