[发明专利]一种半导体探测器漏电流测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201910892464.0 | 申请日： | 2019-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN110618309A | 公开（公告）日： | 2019-12-27 |
| 发明（设计）人： | 叶雨光;邹鸿;宗秋刚 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25;G01R31/02 |
| 代理公司： | 11479 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈敏 |
| 地址： | 100871*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体探测器漏电流测量装置及测量方法，该装置包括高压电源模块及至少一个漏电流测量模块，漏电流测量模块包括与至少一个半导体探测器的输出端一一对应电性连接的至少一个放大器，跨接在每一个所述放大器两端的相互串联的第一电阻和第二电阻，漏电流测量模块通过第一电阻和所述第二电阻实现半导体探测器的漏电流信号的不同的增益，AD转换器测量放大器两端的电压以获得半导体探测器的漏电流。漏电流测量模块通过第一电阻和第二电阻实现半导体探测器的漏电流信号的不同的增益，从而能够根据不同的漏电流大小选择不同的增益，从而提高测量的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体探测器 电阻 漏电流测量 放大器 漏电流信号 漏电流 测量 漏电流测量装置 高压电源模块 测量放大器 大小选择 电性连接 输出端 跨接 串联 | ||
【主权项】：
1.一种半导体探测器漏电流测量装置，其特征在于，包括：/n高压电源模块，与所述半导体探测器电连接，用于控制施加在所述电流测量装置上的外部电压的大小，使所述外部电压适应半导体探测器的工作电压，所述半导体探测器在所述外部电压的作用下产生漏电流；/n至少一个漏电流测量模块，包括与至少一个所述半导体探测器的输出端一一对应电性连接的至少一个放大器，以及跨接在每一个所述放大器两端的相互串联的第一电阻和第二电阻，所述漏电流测量模块通过接通所述第一电阻或者接通所述第一电阻和所述第二电阻对所述半导体探测器的所述漏电流放大不同的倍数并输出所述漏电流对应的电压信号。/n
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