[发明专利]基于劳厄照相法的材料全应力应变张量的测量方法

摘要

本发明公开了一种基于劳厄照相法的材料全应力应变张量的测量方法，方法包括以下步骤：使用发射连续谱X射线的光源照射样品表面，X射线面探测器接收来自样品表面的共有n个衍射峰的劳厄衍射图谱，标定所述劳厄衍射图谱得到其中第i个衍射峰的米勒指数，建立样品坐标系，计算各衍射峰的单位衍射向量构建坐标转换矩阵M，通过求解方程组，得到参数，以不同能量下的衍射峰积分强度Ij为纵轴绘制曲线，并使用高斯函数拟合曲线，获得拟合的高斯曲线最高点所在的横轴位置ds；根据c计算所述实际晶格参数a、b、c、α、β、γ，基于实际晶格参数a、b、c、α、β、γ，构建实验坐标转换矩阵Ms，计算在晶体学直角坐标系下的全应变张量，得到样品坐标系下的应变张量。

主权项

1.一种基于劳厄照相法的材料全应力应变张量的测量方法，所述方法包括以下步骤：/n第一步骤(S1)中，用发射连续谱X射线的光源照射样品表面，X射线面探测器接收来自样品表面的共有n个衍射峰的劳厄衍射图谱，标定所述劳厄衍射图谱得到其中第i个衍射峰的米勒指数[h