[发明专利]一种光学直流强电场测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201910882149.X 申请日: 2019-09-18
公开(公告)号: CN110596471B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 杨庆;刘仁远;何彦霄;罗曼丹;王婷婷;王国利;贾磊 申请(专利权)人: 重庆大学;南方电网科学研究院有限责任公司
主分类号: G01R29/12 分类号: G01R29/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 蔡抒枫
地址: 400030 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种光学直流强电场测量系统,其特征在于:包括依次连接的激光光源、直流电场传感器和光电探测器,还包括信号显示与处理系统,所述信号显示与处理系统与所述直流电场传感器和光电探测器均连接。本发明使用旋转屏蔽片对外部直流电场进行斩波调制,解决了电光晶体不能直接测量直流电场的问题;使用电光晶体对电场信号进行测量,其测量精度高,测量范围大,实现5‑100kV/m的直流强电场的准确测量;采用光纤进行信号的传输,实现传输系统的光电隔离,传感器具有较强的抗电磁干扰能力,可适用于电磁环境较为复杂的场合;传感器可进一步用于交直流混合电场测量。
搜索关键词: 一种 光学 直流 电场 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种光学直流强电场测量系统,其特征在于:包括依次连接的激光光源、直流电场传感器和光电探测器,还包括信号显示与处理系统,所述信号显示与处理系统与所述直流电场传感器和光电探测器均连接。/n
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