[发明专利]集成电路芯片测试系统及方法在审
| 申请号： | 201910850832.5 | 申请日： | 2019-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN110456257A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 张悦 | 申请（专利权）人： | 合肥悦芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11463 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人： | 刘亚飞<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 230000安徽省合肥市经济区*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路芯片测试系统及方法，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备电连接；计算设备用于对第一测试设备、第二测试设备、采集设备和存储设备进行控制，采集设备在第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对预设集成电路芯片的运行信号，并将运行信号存储至存储设备；第二测试设备从存储设备获取运行信号，并基于运行信号对待测集成电路芯片进行测试。本公开能够提高测试待测集成电路芯片的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试设备 存储设备 采集设备 集成电路芯片 运行信号 计算设备 集成电路芯片测试 电连接 预设 测试 存储 采集 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路芯片测试系统，其特征在于，所述集成电路芯片测试系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，所述第一测试设备、所述采集设备、所述存储设备和所述第二测试设备之间依次电连接，且所述计算设备分别与所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备电连接；/n所述计算设备用于根据针对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备的控制指令，分别对所述第一测试设备、所述第二测试设备、所述采集设备和所述存储设备进行控制；/n所述采集设备在所述第一测试设备接入预设集成电路芯片时，采集针对所述预设集成电路芯片的运行信号，并将所述运行信号存储至所述存储设备；/n所述第二测试设备从所述存储设备获取所述运行信号，并基于所述运行信号对待测集成电路芯片进行测试，所述预设集成电路芯片与所述待测集成电路芯片的芯片类型相同。/n
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