[发明专利]一种同时以点与面特征约束的三维激光扫描的检校方法

摘要

本发明涉及一种同时以点与面特征约束的三维激光扫描的检校方法，包括以下步骤：(1)获取点与面目标的扫描观测值和参考真实值，对两目标点集三维配准与粗差探测；(2)将配准转换参数作为初始位姿参数，对观测值与参考值间的系统性偏差采用误差模型描述；(3)将系统误差参数设为零与初始位姿参数进行最小二乘估计，获得优化的位姿参数和观测量权重；(4)以点与面为约束的附有参数条件平差，对系统误差参数与位姿参数进行最优估计；(5)利用估计的参数改正扫描观测值，采用数学统计改正前后观测值与参考值间的偏差，评价提高精度与程度。与现有方法相比，本发明具有综合多种约束，所有参数同时最优估计，准确性好，精度高，易操作特点。

主权项

1.一种同时以点与面特征约束的三维激光扫描的检校方法，其特征在于包括如下步骤：/n(1)使用扫描仪在多个站点对物方空间中不同位置的点与面目标进行扫描作为扫描观测值，并使用高精度全站仪三维测量系统获得点与面目标三维坐标作为参考真实值，采用刚体转换的布尔萨模型将扫描观测点集与参考真实点集进行目标到目标的三维配准，将多个扫描站获得的本体坐标系下三维点云转换到物方空间的外部坐标系，将两坐标系间的转换关系作为初始位姿参数；这里获得第j扫描站坐标系到外部坐标系的平移矩阵ΔX