[发明专利]缺陷检测识别方法、装置、计算机设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201910843972.X 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN110555839A 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 高斌斌;高立钊;贾佳亚;戴宇荣;沈小勇 申请(专利权)人: 腾讯云计算(北京)有限责任公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/187;G06T7/194;G06K9/00;G06N3/04;G01N21/88
代理公司: 11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 代理人: 祝亚男
地址: 100191 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种缺陷检测识别方法、装置、计算机设备及介质,属于计算机视觉检测以及识别领域。所述方法通过对目标产品图像中的背景和前景分割获得掩码图,并根据目标产品图像的掩码图中连通域的空间位置分布和数量,在目标产品图像中定位缺陷目标,进而对目标定位框所对应的目标产品图像块进行识别,该分割方法将对缺陷形状和边界的预测转化为对缺陷前景和背景的分割,实现了对缺陷掩码更加准确的预测,该缺陷定位块包括满足目标条件的缺陷前景和图像背景,同时本发明提供的缺陷定位的方法,可以更加准确地定位缺陷的位置,有助于提取主要的缺陷特征,减少掩码噪音和目标产品图像背景对缺陷类型识别的影响,提高缺陷类型识别的准确性。
搜索关键词: 目标产品 掩码 缺陷类型识别 定位缺陷 缺陷定位 图像背景 图像 计算机视觉检测 缺陷检测识别 计算机设备 空间位置 目标定位 目标条件 前景分割 缺陷特征 缺陷形状 连通域 图像块 分割 预测 噪音 转化
【主权项】:
1.一种缺陷检测识别方法,其特征在于,所述方法包括:/n基于目标产品图像,获取所述目标产品图像的掩码图;/n根据所述目标产品图像的掩码图中连通域的空间位置分布和数量,在所述目标产品图像中,确定目标定位框,所述目标定位框所确定的前景和背景符合目标条件;/n对所述目标产品图像中的所述目标定位框所对应的目标产品图像块进行识别。/n
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