[发明专利]试样前处理装置和分析系统在审
| 申请号： | 201910842083.1 | 申请日： | 2019-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN111351695A | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 池上晃平;平田泰士;平野彰弘 | 申请（专利权）人： | 株式会社堀场制作所 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N1/42 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 李成必;李雪春 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供试样前处理装置和分析系统。试样前处理装置(2)通过对由分析装置(3)分析的试样(W)进行加热来进行前处理，其包括：加热炉(4)，对试样(W)进行加热；导出口(2P2)，使由加热炉(4)加热的试样(W)落下而导出所述试样(W)；以及姿势限制部(PR)，对从导出口(2P2)落下的试样(W)的姿势进行限制。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 处理 装置 分析 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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