[发明专利]一种存储性能测试方法、装置、电子设备有效
| 申请号： | 201910837521.5 | 申请日： | 2019-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN112445669B | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 吴蔚珍;夏银波;刘布麒;杨颖;周志飞;刘辉荣;游桂贞 | 申请（专利权）人： | 中车株洲电力机车研究所有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 | 代理人： | 曾志鹏 |
| 地址： | 412001*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储性能测试方法、装置、电子设备，所述测试方法包括：向终端的存储器写入测试数据；在向所述存储器写入所述测试数据的过程中中断向所述终端的供电；向所述终端供电；接收所述存储器存储的实际数据；比对所述测试数据与所述实际数据；以及根据比对结果生成并输出表征所述终端存储性能的数据。综上，通过在存储器写入测试数据的过程模拟终端异常断电，再次向终端供电后，接收所述存储器存储的实际数据。比对所述测试数据与所述实际数据以判断存储器在异常断电瞬间前数据存储能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 性能 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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