[发明专利]一种提升光学相控阵扫描范围的方法及光学天线器件有效

专利信息
申请号: 201910828740.7 申请日: 2019-09-03
公开(公告)号: CN110673419B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 余宇;李振;张羽;张新亮 申请(专利权)人: 华中科技大学;中国电子科技集团公司第四十四研究所
主分类号: G02F1/29 分类号: G02F1/29;G02F1/295;G02F1/313
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种提升光学相控阵扫描范围的方法及光学天线器件,通过马赫‑曾德尔干涉仪结构接收TE0模式入射光,通过调节入射光经过马赫‑曾德尔干涉仪结构两个分支的相位差,使得马赫‑曾德尔干涉仪结构的输出端选择性输出TE0模式出射光或TE1模式出射光;对马赫‑曾德尔干涉仪结构输出的TE0模式出射光或TE1模式出射光进行处理,TE0模式出射光的模式不发生改变,TE1模式出射光被转换为TM0模式出射光;将TE0模式出射光或TM0模式出射光以不同的辐射角度范围辐射到自由空间中;所述光学相控阵扫描范围包括TE0模式出射光的辐射角度范围和TM0模式出射光的辐射角度范围。本发明实现了激光光源波长调谐范围不变的基础上,纵向扫描范围的加倍。
搜索关键词: 一种 提升 光学 相控阵 扫描 范围 方法 天线 器件
【主权项】:
1.一种提升光学相控阵扫描范围的方法,其特征在于,包括如下步骤:/n通过马赫-曾德尔干涉仪结构接收TE0模式入射光,通过调节入射光经过马赫-曾德尔干涉仪结构两个分支的相位差,使得马赫-曾德尔干涉仪结构的输出端选择性输出TE0模式出射光或TE1模式出射光;/n对马赫-曾德尔干涉仪结构输出的TE0模式出射光或TE1模式出射光进行处理,TE0模式出射光的模式不发生改变,TE1模式出射光被转换为TM0模式出射光;/n将TE0模式出射光或TM0模式出射光以不同的辐射角度范围辐射到自由空间中;所述光学相控阵扫描范围包括TE0模式出射光的辐射角度范围和TM0模式出射光的辐射角度范围。/n
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