[发明专利]一种微电容检测方法及装置在审
| 申请号： | 201910827134.3 | 申请日： | 2019-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN112444679A | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 郑发耀 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 徐秋平 |
| 地址： | 350003 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微电容检测方法及装置。所述微电容检测方法包括：产生一脉冲信号；利用一检测电路将所述脉冲信号转换为一检测参考信号；利用连接有待测微电容的所述检测电路将所述脉冲信号转换为一检测信号；获取所述检测信号与所述检测参考信号的相位差；根据所述相位差计算获得所述待测微电容的电容值。所述微电容检测方法完全由数字电路实现，具有检测速度快、检测范围宽等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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