[发明专利]基于空间相位展开的双目光栅投影测量方法有效
| 申请号： | 201910812511.6 | 申请日： | 2019-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN110375675B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 曾小婉;张楠楠;郭寅;郭磊 | 申请（专利权）人： | 易思维（杭州）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于空间相位展开的双目光栅投影测量方法，包括如下步骤：1)投影仪在待测物表面投射条纹，两相机分别采集图像；2)对采集到的图像进行处理，分别计算相位，当求得的相位值小于0时，相位值加上2π，使相位均位于0～2π之间得到相位主值；所述相位主值图中某一像素存在异常于规律性变化的突变；3)以突变位置为零点，利用空间相位展开方法求取绝对相位，再利用外极线约束确定同名点，继而解算出待测位置的三维信息。该基于空间相位展开的双目光栅投影测量方法通过对投影条纹的设计使识别条纹本身就能得到绝对相位，减少了图像特征提取步骤和提取精度对整体测量精度造成的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 空间 相位 展开 双目 光栅 投影 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于空间相位展开的双目光栅投影测量方法，其特征在于包括如下步骤：1)投影仪在待测物表面投射条纹，两相机分别采集图像；2)对采集到的图像进行处理，分别计算相位，当求得的相位值小于0时，相位值加上2π，使相位均位于0～2π之间得到相位主值；所述相位主值图中某一像素存在异常于规律性变化的突变；3)以突变位置为零点，利用空间相位展开方法求取绝对相位，再利用外极线约束确定同名点，继而解算出待测位置的三维信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于易思维（杭州）科技有限公司，未经易思维（杭州）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910812511.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
