[发明专利]自动预引导性能测量在审
| 申请号： | 201910800102.4 | 申请日： | 2019-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN110968469A | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | M·塞加尔;V·马卡罗夫;U·赫什科维奇 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/273 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 黄嵩泉;何焜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及自动预引导性能测量。一种系统包括中央处理单元(CPU)和组件，包括参与系统的引导序列的一部分的逻辑的特定组件，其中引导序列的一部分在激活CPU之前开始。特定组件用于在引导序列的部分期间发送一个或多个信号以与系统中的另一个组件交互。特定组件包括定时器块，用于在引导序列的部分期间生成一组时间戳，其中该组时间戳指示特定组件的执行时间量。特定组件将该组时间戳以一个或多个信号中的特定一个信号的形式发送到另一个组件，其中该组时间戳用于确定系统组件用于完成引导序列的执行时间。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 引导 性能 测量 | ||
【主权项】：
暂无信息
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