[发明专利]适用于多量子计算机芯片的位态测量读取装置及方法有效
| 申请号： | 201910775561.1 | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110649976B | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 郭科选;周明;王乔 | 申请（专利权）人： | 华东计算技术研究所（中国电子科技集团公司第三十二研究所） |
| 主分类号： | H04B10/70 | 分类号： | H04B10/70;H04B10/516;H04B10/524 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种适用于多量子计算机芯片的位态测量读取装置及方法，装置包括：测量模块、读取模块以及微波开关片选模块；所述测量模块与读取模块、微波开关片选模块分别相连，所述读取模块与微波开关片选模块相连；测量模块：根据脉冲信号，获取用于激励量子芯片的测量信号；微波开关片选模块：将测量信号送至特定芯片的输入端口；根据测量信号，指定特定芯片做出响应，输出读取信号；读取模块：根据读取信号、数据采集信号，获取采集后读取信号；所述数据采集信号指导通过数据采集卡进行数据采集的行为。在受低温设备空间及制冷功率的限制及低温设备中可供使用的传输线缆数量有限的条件下，提高芯片测量效率。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 多量 计算机 芯片 测量 读取 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于多量子计算机芯片的位态测量读取装置，其特征在于，包括：测量模块、读取模块以及微波开关片选模块；/n所述测量模块与读取模块、微波开关片选模块分别相连，所述读取模块与微波开关片选模块相连；/n测量模块：根据脉冲信号，获取用于激励量子芯片的测量信号；/n微波开关片选模块：将测量信号送至特定芯片的输入端口；/n根据测量信号，指定特定芯片做出响应，输出读取信号；/n读取模块：根据读取信号、数据采集信号，获取采集后读取信号；/n所述数据采集信号指导通过数据采集卡进行数据采集的行为。/n
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