[发明专利]一种多数量存储芯片的测试设备在审
| 申请号: | 201910772509.0 | 申请日: | 2019-08-21 | 
| 公开(公告)号: | CN112420120A | 公开(公告)日: | 2021-02-26 | 
| 发明(设计)人: | 许斌 | 申请(专利权)人: | 上海优异达机电有限公司 | 
| 主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G11B33/14 | 
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 | 
| 地址: | 201619 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 | 
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| 摘要: | 本发明提供了芯片多数量同时在线测试的设备,本发明由几种相同的模块组成,分为前后两部分,前半部分是测试部分,该部分采用托盘与导向板结合的设计方式,测试基板直接固定在托盘上,托盘通过导向板的滑槽前后滑动,方便取放;每对导向板都有多组滑道,多组滑道可放置多层托盘,减少了测试的空间的占用,增加了测试的数量;后半部分为测试电脑部分,该部分也采用托盘式设计,方便对测试电脑的维护;一个测试电脑对应前面多个托盘的测试,测试电脑与托盘通过排线或转接板连接;为减少芯片在测试过程中芯片发热对测试的影响,设备安装有多组散热风扇。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 多数 存储 芯片 测试 设备 | ||
【主权项】:
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