[发明专利]基于双DMD的高反光表面动态三维面形测量系统及方法在审
| 申请号： | 201910772483.X | 申请日： | 2019-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN110375651A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 冯维;汤少靖;吴贵铭;赵晓冬;刘红帝;赵大兴;孙国栋 | 申请（专利权）人： | 湖北工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/24;G01B11/25;G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 430068 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于双DMD的高反光表面动态三维面形测量系统及方法，DLP投影设备向待测高反光表面投射多幅条纹光栅，光栅经待测高反光表面反射后形成反射光；反射光依次通过第一透镜组和TIR棱镜进入第一数字微镜器件DMD，第一数字微镜器件DMD对反射光进行空间信息的编码调制，第二透镜组将全反射后第一调制反射光完整成像于第二数字微镜器件DMD；第二数字微镜器件DMD对全反射后第一调制反射光进行时间信息的编码调制，第三透镜组将第二调制反射光完整成像于数字相机，数字相机将成像数据传输给上位机，上位机根据成像数据得待测高反光表面的动态三维面形。通过本发明上述系统实现动态三维面形测量，提高测量系统的时间分辨率，满足动态测量的实时性需求。 | ||
| 搜索关键词： | 数字微镜器件 调制反射光 反光表面 反射光 透镜组 测高 三维面形测量系统 高反光表面 编码调制 成像数据 数字相机 完整成像 全反射 上位机 三维面形测量 时间分辨率 测量系统 动态测量 空间信息 时间信息 条纹光栅 系统实现 光栅 实时性 面形 投射 反射 三维 传输 | ||
【主权项】：
1.一种基于双DMD的高反光表面动态三维面形测量系统，其特征在于，所述三维面形测量系统包括：DLP投影设备(1)、第一透镜组(2)、TIR棱镜(3)、第一数字微镜器件DMD(4)、第二透镜组(5)、第二数字微镜器件DMD(6)、第三透镜组(7)、数字相机(8)和上位机(9)；所述DLP投影设备(1)用于向待测高反光表面(10)投射多幅条纹光栅，所述光栅经所述待测高反光表面(10)反射后形成含有待测高反光表面面形信息的反射光；所述第一透镜组(2)和所述TIR棱镜(3)均设置于所述待测高反光表面(10)与所述第一数字微镜器件DMD(4)之间所形成的主光轴(201)上，所述反射光依次通过所述第一透镜组(2)和所述TIR棱镜(3)进入所述第一数字微镜器件DMD(4)，所述第一透镜组(2)用于将含有待测高反光表面面形信息的反射光完整投射到所述第一数字微镜器件DMD(4)；所述第一数字微镜器件DMD(4)用于对所述反射光进行空间信息的编码调制，得到第一调制反射光；所述TIR棱镜(3)用于对所述第一调制反射光进行全反射，得到全反射后第一调制反射光；所述第二透镜组(5)设置于所述TIR棱镜(3)全反射表面与所述第二数字微镜器件DMD(6)之间所形成的主光轴(202)上；所述第二透镜组(5)用于将所述全反射后第一调制反射光完整成像于所述第二数字微镜器件DMD(6)；所述第二数字微镜器件DMD(6)用于对所述全反射后第一调制反射光进行时间信息的编码调制，得到第二调制反射光；所述第三透镜组(7)设置于所述第二数字微镜器件DMD(6)与所述数字相机(8)之间所形成的主光轴(203)上；所述第三透镜组(7)用于将所述第二调制反射光完整成像于所述数字相机(8)上，所述数字相机(8)将成像数据传输给所述上位机(9)，所述上位机(9)根据所述成像数据得到待测高反光表面的动态三维面形。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖北工业大学，未经湖北工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910772483.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
