[发明专利]芯片的测试方法、装置、存储介质及烧录器有效
| 申请号： | 201910737738.9 | 申请日： | 2019-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN110597675B | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 黄立伟;李应浪;江华彬;施奕洲;洪灏;付国强 | 申请（专利权）人： | 珠海泰芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/36 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所 44291 | 代理人： | 杨焕军 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市香洲区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开了一种芯片的测试方法、装置、存储介质及烧录器，属于芯片测试领域。芯片的测试方法包括：检测到芯片上电时，读取预存储的多个执行表；其中，多个执行表各对应一个工作模式；基于目标工作模式在所述多个执行表中选择目标执行表；根据所述目标执行表启动状态机对所述芯片执行测试本申请可以减低测试代码的冗余度，同时能够实现多个工作模式之间的灵活切换，可以提高测试的灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 存储 介质 烧录器 | ||
【主权项】：
1.一种芯片的测试方法，其特征在于，所述方法包括：/n检测到芯片上电时，读取预存储的多个执行表；其中，多个执行表各对应一个工作模式；/n基于目标工作模式在所述多个执行表中选择目标执行表；/n根据所述目标执行表启动状态机对所述芯片执行测试。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于珠海泰芯半导体有限公司，未经珠海泰芯半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910737738.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
