[发明专利]一种预防闪存数据读取错误的方法在审

专利信息
申请号: 201910728685.4 申请日: 2019-08-08
公开(公告)号: CN110534152A 公开(公告)日: 2019-12-03
发明(设计)人: 樊凌雁;杨正洁;刘海銮 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42;G11C16/34;G11C16/26
代理公司: 33233 浙江永鼎律师事务所 代理人: 陆永强<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 310018*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了预防闪存数据读取错误的方法,包括以下步骤:S20,对每个闪存块读操作次数进行计数;S21,对每个闪存块的擦除次数进行计数;S22,对每个闪存块写操作次数进行计数;S23,对每个闪存块数据保存时间进行计时;S24,建立读操作、写操作、擦除次数和数据保存时间与对实际阈值电压干扰的关联表;S25,根据关联表查找对应NAND闪存芯片的实际阈值电压;S26,通过NAND闪存芯片的设置功能调节阈值电压至查找到的实际阈值电压;S27,进行读操作。本发明将闪存芯片读错误由事后补救转变为提前预防,减少出错数目,且不影响读取效率。
搜索关键词: 阈值电压 闪存块 读操作 数据保存 关联表 写操作 擦除 读取 读取效率 功能调节 闪存数据 闪存芯片 预防 补救 出错 计时 查找
【主权项】:
1.一种预防闪存数据读取错误的方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS20,对每个闪存块读操作次数进行计数;/nS21,对每个闪存块擦除次数进行计数;/nS22,对每个闪存块写操作次数进行计数;/nS23,对每个闪存块数据保存时间进行计时;/nS24,建立读操作、写操作、擦除次数和数据保存时间与对实际阈值电压干扰的关联表;/nS25,根据关联表查找对应NAND闪存芯片的实际阈值电压;/nS26,通过NAND闪存芯片的设置功能调节阈值电压至查找到的实际阈值电压;/nS27,进行读操作。/n
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