[发明专利]应用于电子设备的测试方法、装置、计算设备以及介质

摘要

本公开提供了一种应用于电子设备的测试方法，包括：获取电子设备上的待测试界面，其中，待测试界面中包括至少一个控件元素，至少一个控件元素中的每个控件元素用于接收操作指令，以便电子设备响应操作指令执行相应操作，对待测试界面进行处理，以确定至少一个控件元素的位置信息，接收针对至少一个控件元素中目标控件元素的测试指令，其中，测试指令是根据位置信息生成的指令，基于测试指令对目标控件元素进行测试，得到测试结果，根据测试结果，确定目标控件元素是否能够响应于测试指令执行相应操作。本公开还提供了一种应用于电子设备的测试装置、计算设备以及介质。

主权项

1.一种应用于电子设备的测试方法，包括：获取所述电子设备上的待测试界面，其中，所述待测试界面中包括至少一个控件元素，所述至少一个控件元素中的每个控件元素用于接收操作指令，以便所述电子设备响应所述操作指令执行相应操作；对所述待测试界面进行处理，以确定所述至少一个控件元素的位置信息；接收针对至少一个控件元素中目标控件元素的测试指令，其中，所述测试指令是根据所述位置信息生成的指令；基于所述测试指令对所述目标控件元素进行测试，得到测试结果；以及根据所述测试结果，确定所述目标控件元素是否能够响应于所述测试指令执行所述相应操作。