[发明专利]基于负反馈调节的荧光光谱检测系统有效
| 申请号： | 201910704105.8 | 申请日： | 2019-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN110376130B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 胡嘉祺;赵汉涛;叶俊泽;梁培;叶嘉明;张德;余志;倪德江 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人： | 曹鹏飞 |
| 地址： | 310000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于负反馈调节的荧光光谱检测系统，包括：下位机、光源、激发单色器、分束器、监测端光电倍增管、放大电路、光栅、荧光检测区、发射单色器、检测端光电倍增管和上位机；由下位机控制光源发出激光，经过激发单色器筛选后在分束器形成相同的两路光线，一路光经过监测端光电倍增管和放大电路传输返回至下位机，下位机控制光源输出，形成负反馈控制；另一路光经过光栅照射在荧光检测区上激发产生荧光，经过发射单色器和检测端光电倍增管，检测端光电倍增管进行强度检测，经过放大电路将电信号传输至下位机，下位机将检测采集的电信号传输至上位机，最终在上位机得到完整的荧光光谱图。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 负反馈 调节 荧光 光谱 检测 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于负反馈调节的荧光光谱检测系统，其特征在于，包括：下位机(1)、光源(2)、激发单色器(3)、分束器(4)、监测端光电倍增管(5)、放大电路(6)、光栅(7)、荧光检测区(8)、发射单色器(9)、检测端光电倍增管(10)和上位机(11)；所述下位机(1)连接所述光源(2)，控制所述光源发射激光；按照所述激光光路方向依次设置有所述激发单色器(3)和所述分束器(4)；所述激光在所述分束器处分成两路，一路所述激光照射至所述监测端光电倍增管(10)；另一路所述激光通过所述光栅(7)照射至所述荧光检测区(8)；所述荧光检测区生成荧光，按照所述荧光光路方向依次设置有所述发射单色器(9)和所述检测端光电倍增管(10)；所述放大电路(6)与所述监测端光电倍增管(5)和所述检测端光电倍增管(10)相连，并与所述下位机(1)通过导线连接；所述下位机(1)与所述上位机(11)连接通讯。
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