[发明专利]一种粒子辐射探测方法及探测装置

摘要

本发明提供一种粒子辐射探测方法及探测装置，该方法包括对放大器产生的与粒子沉积能量对应的电脉冲信号进行脉冲宽度甄别，并输出与电脉冲信号幅度相对应的逻辑信号。本发明通过建立脉冲幅度与脉冲宽度之间的关系，以脉冲宽度分析方法获得脉冲幅度值，根据脉冲幅度值的甄别和计数实现粒子能谱通量的测量。脉冲宽度分析解决了脉冲峰值电压与甄别器电压上限之间的矛盾，不会因电压上限限制影响脉冲从宽度到幅度的分析结果，因此能够实现超过甄别器电压上限的粒子能谱探测，提高探测的能谱范围。脉冲宽度分析采用数字电路完成，无需对脉冲峰值进行识别及保持，也无需脉冲幅度的模数转换，简化电路设计，更加适合低电压工作，并提高探测的准确度。

主权项

1.一种粒子辐射探测方法，其特征在于，包括以下步骤：探测待测空间中的粒子，并将探测到的所述粒子转换成电荷信号；将所述电荷信号转换成电脉冲信号；根据甄别电压阈值，输出所述电脉冲信号超过甄别电压阈值的逻辑信号；对输出的所述逻辑信号进行脉冲宽度分析，获得所述电脉冲信号的脉冲宽度值，并依据所述电脉冲信号的脉冲幅度与脉冲宽度之间的关系，对所述脉冲宽度值进行能段划分；对不同能段的粒子进行计数，获得粒子能谱通量的测量值。