[发明专利]一种用于磨削加工的光学测量系统及应用方法在审
| 申请号： | 201910676525.X | 申请日： | 2019-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN110480510A | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 马国欣 | 申请（专利权）人： | 广州市宇欣光电子技术研究所有限公司 |
| 主分类号： | B24B49/12 | 分类号： | B24B49/12;G01B11/24 |
| 代理公司： | 44245 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘巧霞<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 511442 广东省广州市番禺*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于磨削加工的光学测量系统及应用方法，系统包括照明光源、承物台、投影光学组件、显示屏、计算机，待加工工件放置在承物台上，磨削加工时，照明光源照明待加工工件，投影光学组件将待加工工件的图像投射在显示屏的显示平面上；计算机控制显示平面显示预存的工件参考标尺图形，并定位在定位基线上，将工件参考标尺图形与待加工工件的投影进行比对，根据比对信息调整磨削加工设备的位移，进行磨削加工。本发明当需要高精度测量时，可将工件参考标尺图形和工件投影图像边界局部放大，通过细分显示像素提高精度，能够很好满足高精度的工件磨削加工对在线检测的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 待加工工件 磨削加工 标尺图形 投影光学组件 显示平面 照明光源 参考 显示屏 光学测量系统 磨削加工设备 高精度测量 计算机控制 比对信息 定位基线 工件投影 图像边界 图像投射 显示像素 在线检测 承物台 比对 承物 预存 投影 计算机 应用 | ||
【主权项】：
1.一种用于磨削加工的光学测量系统，其特征在于，包括照明光源、承物台、投影光学组件、显示屏、计算机，待加工工件放置在承物台上，磨削加工时，照明光源照明待加工工件，投影光学组件将待加工工件的图像投射在显示屏的显示平面上；计算机控制所述显示平面显示预存的工件参考标尺图形，并定位在定位基线上，将所述工件参考标尺图形与待加工工件的投影进行比对，根据比对信息调整磨削加工设备的位移，进行磨削加工。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州市宇欣光电子技术研究所有限公司，未经广州市宇欣光电子技术研究所有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910676525.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种机头驱动机构
- 下一篇：一种用于磨削工具的外转内冷式机构
