[发明专利]一种二维过渡金属硫族化合物晶体及其制备方法和用途有效

专利信息
申请号: 201910666944.5 申请日: 2019-07-23
公开(公告)号: CN110257906B 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 冯晴亮;朱美洁;李萌;郑建邦 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: C30B25/18 分类号: C30B25/18;C30B25/10;C30B28/14;C30B29/46
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 巩克栋
地址: 710072 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种二维过渡金属硫族化合物晶体及其制备方法和用途,所述制备方法包括如下步骤:(1)在加热装置中,沿着气流方向依次放置硫族单质源和过渡金属氧化物源;所述过渡金属氧化物源的表面覆盖有分子筛;所述过渡金属氧化物源的上方放置有生长基底;(2)向所述加热装置中通入保护性气体,升温至所述过渡金属氧化物源的温度达到化学气相沉积温度、硫族单质源的温度达到单质挥发温度,进行化学气相沉积,得到所述二维过渡金属硫族化合物晶体。通过本发明的方法能够制备得到大面积、均匀的单层或多层二维过渡金属硫族化合物晶体,能够用于偏振光电探测或拓扑场效应晶体管。
搜索关键词: 一种 二维 过渡 金属 化合物 晶体 及其 制备 方法 用途
【主权项】:
1.一种二维过渡金属硫族化合物晶体的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:(1)在加热装置中,沿着气流方向依次放置硫族单质源和过渡金属氧化物源;所述过渡金属氧化物源的表面覆盖有分子筛;所述过渡金属氧化物源的上方放置有生长基底;(2)向所述加热装置中通入保护性气体,升温至所述过渡金属氧化物源放置处的温度达到化学气相沉积温度、硫族单质源放置处的温度达到单质挥发温度,进行化学气相沉积,得到所述二维过渡金属硫族化合物晶体。
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