[发明专利]阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法有效
| 申请号： | 201910665298.0 | 申请日： | 2019-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN110335560B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 白国晓 | 申请（专利权）人： | 云谷（固安）科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;H01L27/12 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 娜拉 |
| 地址： | 065500 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法，阵列基板具有显示区域和位于显示区域外周侧的非显示区域，阵列基板包括设置在非显示区域的测试组件，测试组件包括：测试晶体管，包括多个待测电极，多个待测电极包括源极、漏极及栅极；晶体管测试垫，每个待测电极与对应的晶体管测试垫电连接；以及至少一个电阻测试垫，每个电阻测试垫与多个待测电极中的任一待测电极对应电连接，其中，电阻测试垫与对应的待测电极及对应的待测电极所连的晶体管测试垫共同形成第一测试支路。本发明实施例提供的阵列基板、显示面板以及阵列基板的电性测试方法，能够对测试晶体管特性的测试数据进行更准确的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 显示 面板 以及 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板，其特征在于，所述阵列基板具有显示区域和位于所述显示区域外周侧的非显示区域，所述阵列基板包括设置在所述非显示区域的测试组件，所述测试组件包括：测试晶体管，包括多个待测电极，多个所述待测电极包括源极、漏极及栅极；晶体管测试垫，每个所述待测电极与对应的所述晶体管测试垫电连接；以及至少一个电阻测试垫，每个所述电阻测试垫与多个所述待测电极中的任一所述待测电极对应电连接；其中，所述电阻测试垫与对应的所述待测电极及对应的所述待测电极所连的晶体管测试垫共同形成第一测试支路。
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